高溫老化測試房

高溫老化測試房廣泛應(yīng)用于電工、電器、儀器、儀表、光電、電子、安防、通信、傳感器、自動化、智能卡、工業(yè)控制、精密機(jī)械等行業(yè)，是大型零件、半成品、成品做模擬現(xiàn)實環(huán)境溫度做試驗的理想設(shè)備。

高溫老化測試房技術(shù)參數(shù)：

一、可選擇操作的溫度范圍 ： A：0℃； B：-20℃； C：-40℃； D：-70℃～＋80℃/100℃(可選擇任意低溫或者高溫做試驗室的溫度范圍）

二、濕度范圍 ： 20～98％R.H或 30～95％R.H（相對溫濕度圖請參考報價方案）

三、波動度 ： ≤±0.5℃；步入式恒溫恒濕試驗室均勻≤±2℃

四、試驗室控制精度 ：溫度±0.2℃、濕度±2％R.H；

五、試驗室溫度解析精度：0.01℃、試驗室濕度解析精度：0.1%R.H

六、試驗室溫度均勻度：±2℃；濕度均勻度：≤±3%R.H（+2、-3%RH）

七、溫度波動度：±0.5℃ （空載時）

八、安全保護(hù)裝置：超溫保護(hù)，防干燒保護(hù)，無熔絲開關(guān)，缺水保護(hù)，液位保護(hù)，保險絲，壓縮機(jī)超壓、過熱、過電流保護(hù)等眾保護(hù)裝置24小時保證設(shè)備的安全及穩(wěn)定性工作。

九、滿足與執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)如下：

GB/T10592-2008高低溫試驗箱技術(shù)條件；

GB/T11158-2006高溫試驗箱技術(shù)條件；

GB/T10586-2006濕熱試驗箱技術(shù)條件;

GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗A：低溫；GB/T2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗B：高溫；

GB/T 2423.3-2006 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Cab：恒定濕熱試驗；GB/T 2423.4-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Db 交變濕熱（12h＋12h循環(huán)）

十、多年來，東莞市柳沁試驗設(shè)備有限公司以成熟的設(shè)計及生產(chǎn)能力，高科技的制造工藝、豐富的組裝調(diào)試培訓(xùn)經(jīng)驗和嚴(yán)格的質(zhì)量把控，為國內(nèi)廣大顧客設(shè)計并生產(chǎn)了300臺以上的步入式恒溫恒濕試驗室、步入式高低溫試驗室、步入式高溫試驗室、步入式高溫高濕試驗室等各類大型環(huán)境試驗室。技術(shù)指標(biāo)及運行可靠性達(dá)到*的技術(shù)水平，造型美觀，現(xiàn)場安裝，服務(wù)完善、受到眾多顧客的贊譽和長期合作的支持。

這些試驗室的容積從2m3到100m3甚至更大的尺寸均可定做,溫度范圍從-70℃~+100℃的范圍內(nèi)可選擇任意一個溫度范圍,相對濕度從20%R.H~98%R.H.控制器從微芯片LED顯示器到PLC可編程邏輯控制儀觸摸屏顯示器，及遠(yuǎn)程集中控制系統(tǒng)。